La Conferencia Internacional de Sensores y Ciencias de la Medición (SMSI) 2025 se llevará a cabo en conjunto con la principal feria internacional SENSOR+TEST, centrándose predominantemente en tecnología de sensores e instrumentación metrológica. Con este enfoque, se ha establecido una plataforma única que satisface mejor las necesidades de la comunidad científica y la industria. SMSI reúne tecnología e instrumentación de sensores inteligentes, ciencia de medición orientada a la digitalización con características cognitivas, así como metrología moderna basada en tecnología cuántica, incluido el intercambio digital seguro de certificados. Lugar: Nuremberg (Alemania)

La feria Control presenta todos los aspectos teoricos y la gama mundial actual de tecnologías, procesos, productos y soluciones de sistemas existentes para el control de calidad industrial. Lugar: Messe Stuttgart (Alemania)

En una celebración adelantada del día mundial de la metrología, el CEM se une a la conmemoración del 150 aniversario de la firma de la convención del metro. El 16 de mayo celebraremos una jornada especial con invitados internacionales. Puntualmente se podrá acceder a la información detallada del evento en la página web del CEM. Lugar: CEM, c/Alfar 2, Tres Cantos (Madrid, España)

La Conferencia Internacional de Tecnología de Instrumentación y Medición es la conferencia insignia de la Sociedad de Instrumentación y Medición IEEE y está dedicada a los avances en metodologías de medición, sistemas de medición, instrumentación y sensores en todas las áreas de la ciencia y la tecnología. Estas características hacen del I2MTC un evento único y uno de los congresos internacionales más importantes en el campo de la instrumentación y la medida. Lugar: Chemnitz (Alemania)

El objetivo principal de la conferencia es mejorar la colaboración internacional en el campo de la metrología de radionúclidos presentando nuevos desarrollos y aplicaciones y facilitando el intercambio de información científica entre los participantes. Lugar: París (Francia)

En 2025, la comunidad metrológica mundial se reunirá para celebrar el 150º aniversario de la firma de la Convención del Metro, que creó el BIPM, una de las organizaciones internacionales más antiguas del mundo. ¡Te invitamos a unirte a nosotros en este hito histórico! Representantes de los Estados, Institutos Nacionales de Metrología (INM) y organizaciones afines, así como científicos de INM y otros profesionales de la metrología están invitados a participar en las celebraciones que tendrán lugar del 20 al 22 de mayo de 2025 en París y Versalles. Tendrán lugar sesiones magistrales, paneles de discusión y eventos exclusivos con […]

Jornada conmemorativa del Día Mundial de la Metrología en la que se entrega el Reconocimiento al Mérito en la Metrología 2025.

Los temas principales de la conferencia cubrirán tres áreas: problemas teóricos de medición, medición de cantidades físicas y medición en biología y medicina. Las actas de la conferencia (en formato electrónico) estarán disponibles para los participantes de la conferencia en el momento de la conferencia. Los artículos aceptados se enviarán para su inclusión en IEEE Xplore sujetos a cumplir con el alcance y los requisitos de calidad de IEEE Xplore. Se invitará a los autores de los artículos seleccionados a publicar su manuscrito en forma ampliada en la revista en línea Measurement Science Review publicada por Sciendo, la empresa de […]

La conferencia y exposición internacional de Euspen es un foro referente para la industria y la academia para estar al tanto de la innovación industrial, la investigación tecnológica y los desarrollos tecnológicos a nivel mundial. Los asistentes obtendrán una idea de las prioridades de ingeniería de precisión y nanotecnología a nivel Europeo. Este evento ofrece la posibilidad de ver los últimos avances en los campos tradicionales de la ingeniería de precisión como la metrología, el mecanizado de ultra precisión, los procesos aditivos y de replicación, los sistemas y procesos mecatrónicos de precisión y los procesos de control y corte de […]

El MESIC tiene como objetivo la creación de foros para el intercambio de experiencias entre investigadores, profesionales y docentes en el campo de la Ingeniería de Fabricación. Lugar: Bilbao (España)

SPIE Optical Metrology destaca los últimos avances en sistemas de medición óptica. Es la reunión de los campos emergentes de la fotónica dentro de los sistemas de medición, modelado, imágenes, detección e inspección. Lugar: Munich (Alemania)

Los Simposios Living Planet de la Agencia Espacial Europea, que se celebran cada tres años, se encuentran entre los principales eventos del mundo sobre observación de la Tierra. Los simposios continúan ampliándose tanto en tamaño como en alcance. Con la intensificación de la crisis climática, el Simposio de 2025 enfatiza la transición de la “observación a la acción climática y la sostenibilidad para la Tierra”. El evento proporciona un foro para presentar y discutir los últimos hallazgos y aplicaciones científicos basados en datos satelitales, y para revisar la contribución que los datos y las tecnologías han hecho y podrían hacer […]