International Metrology Congress CIM2025

CIM2025 es el principal evento internacional donde la metrología enlaza con la ciencia, la industria y las organizaciones de infraestructura de calidad. Esta 22ª edición promete otro programa dinámico de 4 días, con sesiones paralelas que abordarán desafíos globales. 100% en inglés, con más de 200 presentaciones que abarcan sesiones orales y de carteles, además de mesas redondas, talleres, un curso corto y una variedad de eventos sociales, CIM2025 continúa siendo un centro de debates de vanguardia y oportunidades de networking. Lugar: Lyon (Francia)

Sensor and Measurement Science International

La Conferencia Internacional de Sensores y Ciencias de la Medición (SMSI) 2025 se llevará a cabo en conjunto con la principal feria internacional SENSOR+TEST, centrándose predominantemente en tecnología de sensores e instrumentación metrológica. Con este enfoque, se ha establecido una plataforma única que satisface mejor las necesidades de la comunidad científica y la industria. SMSI reúne tecnología e instrumentación de sensores inteligentes, ciencia de medición orientada a la digitalización con características cognitivas, así como metrología moderna basada en tecnología cuántica, incluido el intercambio digital seguro de certificados. Lugar: Nuremberg (Alemania)

37th Control

La feria Control presenta todos los aspectos teoricos y la gama mundial actual de tecnologías, procesos, productos y soluciones de sistemas existentes para el control de calidad industrial. Lugar: Messe Stuttgart (Alemania)

Día Mundial de la metrología. Celebración del 150 aniversario de la firma de la convención del metro

En una celebración adelantada del día mundial de la metrología, el CEM se une a la conmemoración del 150 aniversario de la firma de la convención del metro. El 16 de mayo celebraremos una jornada especial con invitados internacionales. Puntualmente se podrá acceder a la información detallada del evento en la página web del CEM. Lugar: CEM, c/Alfar 2, Tres Cantos (Madrid, España)

IEEE International Instrumentation and Measurement Technology Conference 2025

La Conferencia Internacional de Tecnología de Instrumentación y Medición es la conferencia insignia de la Sociedad de Instrumentación y Medición IEEE y está dedicada a los avances en metodologías de medición, sistemas de medición, instrumentación y sensores en todas las áreas de la ciencia y la tecnología. Estas características hacen del I2MTC un evento único y uno de los congresos internacionales más importantes en el campo de la instrumentación y la medida. Lugar: Chemnitz (Alemania)

24th International Conference on Radionuclide Metrology and its applications

El objetivo principal de la conferencia es mejorar la colaboración internacional en el campo de la metrología de radionúclidos presentando nuevos desarrollos y aplicaciones y facilitando el intercambio de información científica entre los participantes. Lugar: París (Francia)

BIPM – 150 years of the Metre Convention

En 2025, la comunidad metrológica mundial se reunirá para celebrar el 150º aniversario de la firma de la Convención del Metro, que creó el BIPM, una de las organizaciones internacionales más antiguas del mundo. ¡Te invitamos a unirte a nosotros en este hito histórico! Representantes de los Estados, Institutos Nacionales de Metrología (INM) y organizaciones afines, así como científicos de INM y otros profesionales de la metrología están invitados a participar en las celebraciones que tendrán lugar del 20 al 22 de mayo de 2025 en París y Versalles. Tendrán lugar sesiones magistrales, paneles de discusión y eventos exclusivos con […]

MEASUREMENT 2025 15th International Conference on Measurement

Los temas principales de la conferencia cubrirán tres áreas: problemas teóricos de medición, medición de cantidades físicas y medición en biología y medicina. Las actas de la conferencia (en formato electrónico) estarán disponibles para los participantes de la conferencia en el momento de la conferencia. Los artículos aceptados se enviarán para su inclusión en IEEE Xplore sujetos a cumplir con el alcance y los requisitos de calidad de IEEE Xplore. Se invitará a los autores de los artículos seleccionados a publicar su manuscrito en forma ampliada en la revista en línea Measurement Science Review publicada por Sciendo, la empresa de […]

25th International Conference & Exhibition EUSPEN

La conferencia y exposición internacional de Euspen es un foro referente para la industria y la academia para estar al tanto de la innovación industrial, la investigación tecnológica y los desarrollos tecnológicos a nivel mundial. Los asistentes obtendrán una idea de las prioridades de ingeniería de precisión y nanotecnología a nivel Europeo. Este evento ofrece la posibilidad de ver los últimos avances en los campos tradicionales de la ingeniería de precisión como la metrología, el mecanizado de ultra precisión, los procesos aditivos y de replicación, los sistemas y procesos mecatrónicos de precisión y los procesos de control y corte de […]

SPIE Optical Metrology 2025

SPIE Optical Metrology destaca los últimos avances en sistemas de medición óptica. Es la reunión de los campos emergentes de la fotónica dentro de los sistemas de medición, modelado, imágenes, detección e inspección. Lugar: Munich (Alemania)

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