SPIE Optical Metrology 2025
23 junio, 2025 - 26 junio, 2025
SPIE Optical Metrology destaca los últimos avances en sistemas de medición óptica. Es la reunión de los campos emergentes de la fotónica dentro de los sistemas de medición, modelado, imágenes, detección e inspección.
Lugar: Munich (Alemania)
